
GONIOMÈTRES
-
Plus de 40 ans d’expérience dans la conception et la fabrication de systèmes à rayons X de qualité industrielle.
-
Plusieurs centaines d’équipements en service à travers le monde.
-
Équipements standards ou sur mesure, adaptés à l’ensemble des applications industrielles et R&D.
Goniomètre Série GM
â– Mesures d’orientation
-
Orientation de la face de tout type de cristal
(wafer silicium, plaque de quartz, barre, lingot, etc.) -
Détermination du wafer flat
-
Détection du wafer notch
â– Procédés d’orientation
-
Localisation du flat sur petits lingots
-
Orientation du wafer flat
-
Orientation de barres de quartz avant découpe
-
Orientations spécifiques sur différents types de cristaux
​
Versions disponibles
-
Version standard pour des charges jusqu’à 10 kg
-
Version renforcée pour des charges jusqu’à 25 kg
-
Version spéciale pour des charges jusqu’à 100 kg
-
Versions sur mesure selon application
-
Configuration double station, incluant des versions mixtes avec station GM.WS ou GM.SI en partie inférieure
​
Résolution et affichage
-
Affichage décimal avec une résolution de 0,01°
-
Affichage en degrés, minutes, secondes
(résolution : 1 ou 5 secondes) -
Interface PC et logiciel dédié
-
Affichage décimal et degrés/minutes/secondes
-
Logiciel standard ou personnalisé
-
Enregistrement des données de mesure
-
​
Temps de mesure
​15 à 30 secondes par mesure, selon la configuration de l’équipement


Goniomètre Série GM.WS


â– Orientation des lingots avant découpe par scie à fil
-
Orientation des lingots avant opération de wire saw
-
Procédé d’orientation assisté par logiciel
-
Enregistrement des données de mesure et d’orientation
â– Mesure et orientation de l’axe du lingot
-
Procédé spécifique et équipements complémentaires disponibles pour la préparation de l’usinage « on-axis »
-
Orientation de l’axe du lingot pour opérations de rectification OD
(Fiche technique disponible sur demande)
â– Détermination des directions 〈110〉 sur lingots 〈111〉
-
Informations techniques disponibles sur demande
Précision
-
Mesures goniométriques : ± 0,01°
-
Procédé d’orientation des lingots : meilleure que ± 0,05°
​
Logiciel
Le logiciel réalise les calculs d’orientation de manière à ce que le lingot reste parfaitement horizontal sur le support de scie.
​
L’opérateur est guidé pas à pas par le logiciel tout au long du processus d’orientation.
​
Des verrouillages de sécurité empêchent la poursuite du process tant que les actions requises n’ont pas été correctement effectuées.
​​
Modèles et capacités
-
Plusieurs modèles disponibles couvrant une large gamme d’applications
(diamètres de lingots de 2" à 300 mm, longueurs jusqu’à 550 mm) -
Versions spéciales ou sur mesure sur demande
-
Configurations double station possibles, avec station GM ou GM.SI intégrée en station secondaire
Goniomètre Série GM.SI
â– Mesures d’orientation
-
Orientation du flat de lingot
-
Orientation du notch de lingot
-
Orientation des graines (seeds)
(formes rondes ou carrées) -
Orientation de la face wafer
-
Détermination du wafer flat
â– Procédés d’orientation
-
Flat et notch sur lingots “as grown”
-
Flat et notch sur lingots rectifiés
-
Orientations spécifiques sur différents types de cristaux
​
Modèles / capacités
-
GM.SI 10 : diamètres de lingots de 75 à 250 mm
-
GM.SI 12 : diamètres de lingots jusqu’à 300 mm
-
Longueur maximale de lingot : 800 mm
ou masse maximale : 85 kg
Options
-
Affichage angulaire de la rotation du lingot
-
Options d’affichage angulaire identiques à celles de la série GM
​
Configurations
Les systèmes de goniomètres RX de la série GM.SI sont conçus pour fonctionner en combinaison avec des équipements de rectification.
​
La position du flat ou du notch déterminée par le goniomètre à rayons X est transférée directement vers la machine de rectification.
​
-
Plusieurs configurations de transfert d’orientation disponibles, compatibles avec la majorité des systèmes de rectification et de maintien des lingots
-
Description détaillée des procédés disponible sur demande
-
Configurations double station possibles, avec station GM ou GM.WS intégrée en station secondaire
​
Performances
-
Détection par rayons X : ± 0,01°
-
Procédé d’orientation : ± 0,03° à 0,05°, selon la configuration
-
Mesures angulaires : ± 0,01° à 0,03°

​Une fiche technique dédiée est disponible pour chaque équipement.
Les principes de fonctionnement, les procédures d’orientation ainsi que la description détaillée des procédés sont également disponibles sur demande.


